Spectrométrie par fluorescence X

Description: Spectrométrie par fluorescence X. Technique non-destructive d'analyse élémentaire qualitative et quantitative des minéraux, pigments et alliages. Disponible en analyse ponctuelle ou cartographie complète (MA-XRF).

Applications:

• Identification de la composition chimique et élémentaire
• Caractérisation de pigments inorganiques, métaux, alliages
• Détermination de l'épaisseur et composition des couches picturales
• Cartographie de distribution des pigments (MA-XRF scanning)
• Analyses immédiates, non-destructives, sans contact

Fonctionnement: Rayons X projetés sur la surface font réagir chaque élément de façon caractéristique. Rayonnements récupérés par détecteur et traités pour produire un spectre de fluorescence X. Limite : donne informations sur la totalité de l'épaisseur de peinture, pas d'informations stratigraphiques précises. L'analyse ponctuelle traditionnelle ("Micro-Fluorescence X") peut être étendue en MA-XRF pour cartographie complète.

Invasivité: Non